发现一个高级的键盘扫描方法,一起学习下
在做项目(工程)的时候,我们经常要用到比较多的按键,而且 IO 资源紧张,于是我们就想方设法地在别的模块中节省 IO 口,好不容易挤出一两个 IO 口,却发现仍然不够用,实在没办法了就添加一个 IC 来扫键。一个 IC 虽然价格不高,但对于大批量生产而且产品利润低的厂家来说,这是一笔不菲的开支!
那,我们能不能想到比较好的扫键方法:用最少的 IO 口,扫最多的键?可以吗?举个例:给出 5 个 IO 口,能扫多少键?有人说是 2*3=6 个,如图一:
对,大部分技术参考书都这么做,我们也经常这样做:用 3 个 IO 口作行扫描,2 个 IO 作列检测(为方便描述,我们约定:设置某一 IO 口输出为“0”――称其为“扫某 IO 口”)。用行线输出扫键码,列线检测是否有按键的查询方法进行扫键。扫键流程:在行线依次输出 011,101,110 扫键值,行线每输出一个扫键值,列线检测一次。当列线检测到有按键时,结合输出的扫键值可以判断相应的按键。
但是,5 个 IO 真的只能扫 6 个键吗?有人说可以扫 9 个,很聪明!利用行 IO 与地衍生 3 个键(要注意上拉电阻),如图二:
扫键流程:先检测 3 个行 IO 口,对 K1’,K2’,K3’进行扫键,之后如上述 2*3扫键流程。5 个 IO 口能扫 9 个键,够厉害吧,足足比 6 个键多了 1/2!
动动脑,还能不能再多扫几个?就几个?一个也行!好,再想一下,硬是被逼出来了!如图三:
不多不少,正好 10 个键!这种扫键方式比较少见吧!漂亮!扫键流程:设 IO1 输出为“0”,检测 IO2…IO5,若判断有相应健按下,则可知有健;若无键,则继续扫键:设 IO2 输出为“0”,检测 IO3,IO4,IO5,判断有无键按下,如此类推。这里应注意:当扫某一 IO 口(输出为“0”)时,不要去检测已经扫过的 IO 口。如:此时设置 IO2 输出为“0”,依次检测 IO3,IO4,IO5,但不要去检测IO1,否则会出错(为什么,请思考)。
感觉怎么样?不错吧!让我们再看看图三,好有成就感!看着,看着……又看到了什么?
快!见图四:
真强!被您看出 20 个键!多了一个对称的三角形。可是,像这样的排列能正确扫 20 个键吗?回答是肯定的:不能!上下三角形相互对称,其对称扫出的键无法区别。有没有注意到分析图三时提到的注意点?(à“当扫某 IO 口时,不要去检测已经扫过的 IO 口,否则会出错”)
我们分析一下图四:当 IO1 输出“0”时,按下 K11 或 K11’键都能被 IO2 检测到,但 IO2 检测却无法区别 K11 和 K11’键!同理,不管扫哪个 IO 口,都有两个对称的键不能区分。
我们假想,如果能把对称键区分开来,我们就能正常地去判断按键。我们在思考 : 有没有单向导通性器件?有!见图五!
很巧妙的思路!利用二极管的单向导通性,区别两个对称键。扫键思路:对逐个 IO 口扫键,其他四个 IO 口可以分别检测其所在的四个按键。这样,就不会有分析图三时提到的注意点。
够酷吧!等等,大家先别满足现状,我们再看一下图二,是不是有点启发?对,我们再分析一下“用 5 个 IO 口对地衍生的 5 个键”。看图六:
25 个键!5 个 IO 口扫出 25 个键!先别激动,我们再分析一下它的可行性,分析通得过才能真正使用。假设扫键流程:先扫对地的 5 个键,再如图五扫键。先扫对地 5 个键,判断没有按键,接着对逐一对 IO 口进行扫键。但当对某一 IO 口扫键时,如果有对地的键按下,这时有可能会误判按键,因为对地键比其他键有更高的响应优先级。例如:扫 IO1,IO1 输出“0”,恰好此时 K62 按下,IO2 检测到有按键,那就不能判断是 K11 还是 K62。我们可以在程序上避免这种按键误判 :若 IO2 检测到有按键,那下一步就去判断是否有对地键按下,如果没有,那就可以正确地判断是 K11 了。
我们小结扫键个数 S:
S = (N-1)*N + N ――启用二极管
S = (N-1)*N /2 + N ――省掉二极管
经典吗?太经典了!!告诉大家一个小道消息:第一个设计出此电路的人是一个美国大佬,他(她?)还为此申请了专利!
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堪称一绝的按键扫描.doc
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