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根据半导体集成电路运算放大器测试方法的基本原理 求帮助

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楼主
ID:856686 发表于 2020-12-14 09:08 来自手机 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
根据GB3442-1986半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理，设计一个用于测量运算放大器失调的简易测试仪，测试仪包含模数转换模块、失调电压测试电路、数模转换模块、单片机核心模块、键盘与显示模块等，失调电压测试范围0.1mV-10mV，测量误差不大于30%，测试结果显示在OLED/LCD上。
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